Die Fähigkeit eines CLSM, die Probentopografie quantitativ auszuwerten, hebt es nicht nur als Weiterentwicklung konventioneller Auflichtmikroskope hervor, sondern etabliert es als ein eigenständiges Messverfahren. Es ermöglicht in einer Vielzahl materialwissenschaftlicher Fragestellungen für große Probenserien belastbare Zahlenwerte und Trends als Basis für mathematische Modelle zu bestimmen. In verschiedenen aktuellen und geplanten Forschungs-projekten und in der Lehre im Bereich metallischer und polymerer Werkstoffanalytik ist ein CLSM eine große Bereicherung und eine sinnvolle Ergänzung bestehender Messtechnik in den Laboren des Bielefelder Institut für angewandte Materialforschung (BIfAM). Die primären Einsatzbereiche des Geräts sind einerseits die Charakterisierung und Entwicklung neuer Materialien und andererseits die Analyse und Modellierung von Alterungs- und Ermüdungs-mechanismen, Schadens- und Fehleranalysen sowie umweltbedingten Degradations-prozessen. Zu den gängigen Oberflächencharakteristika, die in diesen Bereichen untersucht werden, gehören Rauheit, anisotrope Topografien, Mikrorisse und -lunker, Füllstoffpartikel oder Korrosionsspuren. Das ausgeschriebene Gerät erlaubt darüber hinaus die Durchführung von in-situ Werkstoffprüfungen, etwa während mechanischer Überbelastung, Degradations- oder Korrosionsprozessen.
Leistungsumfang
1. Grundgerät
2. Objektive optimiert für 405 nm Laser, 8 Stück sind anzubieten mit Angabe der numerischen Apertur und des Arbeitsabstandes
3. Schwingungsgedämpfter Tisch
4. Software und Workstation
5. Installation und Schulung
6. Weitere Spezifikationen
Die genauen Spezifikationen sind dem Leistungsverzeichnis zu entnehmen.